Art

J-GLOBAL ID：200902186566665164   Reference number：03A0121413

A New Algorithm for Surface Deformation Monitoring Based on Small Baseline Differential SAR Interferograms.

小基線の差分SAR干渉写真に基づき表面変形を監視するための新しいアルゴリズム

Author (4)： BERARDINO P (National Res. Council of Italy, Napoli, ITA) ,  FORNARO G (National Res. Council of Italy, Napoli, ITA) ,  LANARI R (National Res. Council of Italy, Napoli, ITA) ,  SANSOSTI E (National Res. Council of Italy, Napoli, ITA)
Material： IEEE Transactions on Geoscience and Remote Sensing  (IEEE Trans Geosci Remote Sensing)
Volume： 40  Issue： 11  Page： 2375-2383  Publication year： Nov. 2002 
JST Material Number： H0016B  ISSN： 0196-2892  CODEN： IGRSD2  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： base line survey ,...

   To see more with JDream III (charged).   {{ this.onShowAbsJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=03A0121413&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=H0016B") }}

JST classification (1)： Geodesy  (DC02000X)

Terms in the title (7)： 基線 ,  差分 ,  SAR ,  干渉 ,  写真 ,  表面変形 ,  アルゴリズム