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J-GLOBAL ID：200902186572787352   Reference number：93A0708451

Electron channelling contrast imaging of interfacial defects in strained silicon-germanium layers on silicon.

Author (5)： WILKINSON A J (Univ. Oxford, Oxford, GBR) ,  ANSTIS G R (Univ. Technology, Sydney, AUS) ,  CZERNUSZKA J T (Univ. Oxford, Oxford, GBR) ,  LONG N J (Univ. Oxford, Oxford, GBR) ,  HIRSCH P B (Univ. Oxford, Oxford, GBR)
Material： Philosophical Magazine. A. Physics of Condensed Matter: Structure, Defects and Mechanical Properties  (Philosophical Magazine. A. Physics of Condenesed Matter)
Volume： 68  Issue： 1  Page： 59-80  Publication year： Jul. 1993 
JST Material Number： E0753B  ISSN： 0141-8610  CODEN： PMAADG  Document type： Article
Country of issue： United Kingdom (GBR)  Language： ENGLISH (EN)