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J-GLOBAL ID：200902187662885988   Reference number：02A0599382

Surface and interface of Ti(film)/SiC(substrate) system: A soft X-ray emission and photoemission electron microscopy study.

Ti(膜)/SiC(基板)系の表面及び界面 軟X線放射及び光電子放出電子顕微鏡研究

Author (7)： LABIS J (Okayama Univ., Okayama, JPN) ,  OHI A (Okayama Univ., Okayama, JPN) ,  KAMEZAWA C (Okayama Univ., Okayama, JPN) ,  YOSHIDA K (Okayama Univ., Okayama, JPN) ,  HIRAI M (Okayama Univ., Okayama, JPN) ,  KUSAKA M (Okayama Univ., Okayama, JPN) ,  IWAMI M (Okayama Univ., Okayama, JPN)
Material： Applied Surface Science  (Appl Surf Sci)
Volume： 190  Issue： 1/4  Page： 521-526  Publication year： May. 08, 2002 
JST Material Number： B0707B  ISSN： 0169-4332  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Netherlands (NLD)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *Titanium ,...
Semi thesaurus term： SXES ,...

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JST classification (2)： Other noncatalytic reactions  (CB06070U) ,  Thin films of other inorganic compounds  (BK14060A)

Terms in the title (9)： Ti ,  SiC ,  系 ,  界面 ,  軟X線 ,  放射 ,  光電子放出 ,  電子顕微鏡 ,  研究