Art

J-GLOBAL ID：200902190058097700   Reference number：96A0295648

Low-cost modification of a contact atomic force microscope(AFM) into a sound-activated tapping mode AFM for use in air and liquids.

空気中と液体中で使用するための,接触原子間力顕微鏡(AFM)の音差動タッピングモードAFMへの低コスト改良

Author (4)： VINCKIER A (Katholieke Univ. Leuven, Heverlee, BEL) ,  HENNAU F (Katholieke Univ. Leuven, Heverlee, BEL) ,  KJOLLER K (Digital Instruments Inc., California) ,  HELLEMANS L (Katholieke Univ. Leuven, Heverlee, BEL)
Material： Review of Scientific Instruments  (Rev Sci Instrum)
Volume： 67  Issue： 2  Page： 387-392  Publication year： Feb. 1996 
JST Material Number： D0517A  ISSN： 0034-6748  CODEN： RSINAK  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： atomic force microscope ,...
Semi thesaurus term： AFM【顕微鏡】

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JST classification (1)： Electron and ion microscopes  (BD02050B)

Terms in the title (7)： 空気中 ,  液体中 ,  原子間力顕微鏡 ,  AFM ,  音 ,  差動 ,  タッピングモードAFM