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J-GLOBAL ID：200902192881158696   Reference number：00A0150270

Fault Diagnosis in Scan-Based BIST Using Both Time and Space Information.

スキャンベースBISTでの時間空間両情報を用いた故障診断

Author (3)： GHOSH-DASTIDAR J (Univ. Texas, TX) ,  DAS D (Univ. Texas, TX) ,  TOUBA N A (Univ. Texas, TX)
Material： Proceedings. International Test Conference  (Proc Int Test Conf)
Volume： 1999  Page： 95-102  Publication year： 1999 
JST Material Number： E0211B  ISSN： 1089-3539  Document type： Proceedings
Article type： 原著論文  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *fault diagnosis ,...
Semi thesaurus term： signature

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JST classification (2)： Measurement,testing and reliability of solid-state devices  (NC03040G) ,  Logic circuits  (NC05070B)

Terms in the title (3)： スキャン ,  BIST ,  故障診断