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J-GLOBAL ID：200902194215314600   Reference number：99A0391836

Photo-Induced Current between Semiconductor and Metal through Real Contact Area.

光誘起電流による半導体/金属界面の真実接触面の評価の基礎研究

Author (4)： KOTAKE SHIGEO (三重大 工) ,  SAKURADA HIROSHI (三重大 大学院) ,  SUZUKI YASUYUKI (三重大 工) ,  SENOO MASAFUMI (三重大 工)
Material： 日本機械学会論文集 C編  (Transactions of the Japan Society of Mechanical Engineers. Series C)
Volume： 65  Issue： 632  Page： 1677-1683  Publication year： Apr. 25, 1999 
JST Material Number： F0045B  ISSN： 0387-5024  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *semiconductor chip ,...

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JST classification (1)： Measurement,testing and reliability of solid-state devices  (NC03040G)

Reference (11)：

• TAMAI, T. Trans. Inst. Electron. & Commun. Eg. Jp. Sect. E. 1985, 68, 4, 241-242
• 河野彰夫. 応用物理. 1984, 53, 8, 733-735
• YAMAGUCHI, K. Surf. Sci. 1997, 377-379, 1015-1018
• KROLIKOWSKI, J. Wear. 1991, 148, 3, 181-195
• 木村好次. トライボロジー概論. 1988, 29-30

Terms in the title (6)： 光誘起 ,  界面 ,  接触面 ,  評価 ,  基礎 ,  研究