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J-GLOBAL ID：200902195626410798   Reference number：95A0154935

Terahertz spectroscopy of optically thick multilayered semiconductor structures.

光学的に厚い多層半導体構造のテラヘルツ分光法

Author (4)： RALPH S E (Emory Univ., Georgia) ,  PERKOWITZ S (Emory Univ., Georgia) ,  KATZENELLENBOGEN N (IBM T.J. Watson Research Center, New York) ,  GRISCHKOWSKY D (IBM T.J. Watson Research Center, New York)
Material： Journal of the Optical Society of America. B. Optical Physics  (J Opt Soc America B Opt Phys)
Volume： 11  Issue： 12  Page： 2528-2532  Publication year： Dec. 1994 
JST Material Number： C0977A  ISSN： 0740-3224  CODEN： JOBPDE  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： multilayer film ,...

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JST classification (1)： Infrared spectroscopy and spectrometers  (BD07042H)

Terms in the title (2)： 多層 ,  テラヘルツ分光法