Art

J-GLOBAL ID：200902198034447191   Reference number：02A0118585

Contribution of CIRP to the Development of Metrology and Surface Quality Evaluation During the Last Fifty Years.

最近の50年間における計測工学と表面品質評価の発展へのCIRPの貢献

Author (9)： PETERS J (KULeuven) ,  BRYAN J B ,  ESTLER W T (NIST, MD) ,  EVANS C (Zygo Corp., CT) ,  KUNZMANN H (PTB, Braunschweig) ,  LUCCA D A (Oklahoma-State Univ.) ,  SARTORI S (IMGC, Torino) ,  SATO H (Chuo Univ., Tokyo) ,  VANHERCK P (KULeuven)
Material： CIRP Annals (International Inst. for Production Engineering Research)  (Manufacturing Technology)
Volume： 50  Issue： 2  Page： 471-488  Publication year： 2001 
JST Material Number： E0026A  ISSN： 0007-8506  Document type： Article
Article type： 解説  Country of issue： United Kingdom (GBR)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *metrology ,...
Semi thesaurus term： 表面品質

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JST classification (1)： Measuring methods and instruments of length,area,cross section,volume,angle  (AD05020O)

Terms in the title (4)： 計測工学 ,  表面品質 ,  評価 ,  発展