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J-GLOBAL ID：200902199280816780   Reference number：01A0158106

Influence of stiffness of carbon-nanotube probes in atomic force microscopy.

原子間力顕微鏡におけるカーボンナノチューブ探針の剛性の影響

Author (3)： AKITA S (Osaka Prefecture Univ., Osaka, JPN) ,  NISHIJIMA H (Osaka Prefecture Univ., Osaka, JPN) ,  NAKAYAMA Y (Osaka Prefecture Univ., Osaka, JPN)
Material： Journal of Physics. D. Applied Physics  (J Phys D)
Volume： 33  Issue： 21  Page： 2673-2677  Publication year： Nov. 07, 2000 
JST Material Number： B0092B  ISSN： 0022-3727  CODEN： JPAPBE  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： United Kingdom (GBR)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *nanotube ,...

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JST classification (2)： Electron and ion microscopes  (BD02050B) ,  Atomic and molecular clusters  (BH09030O)

Terms in the title (4)： 原子間力顕微鏡 ,  カーボンナノチューブ ,  探針 ,  剛性