In situ transmission electron microscopy studies enabled by microelectromechanical system technology

ZHANG M.; OLSON E.A.; TWESTEN R.D.; WEN J.G.; ALLEN L.H.; ROBERTSON I.M.; PETROV I.

Art

J-GLOBAL ID：200902202022701405 Reference number：05A0692362

In situ transmission electron microscopy studies enabled by microelectromechanical system technology

微小電子機械システム技術により可能としたその場透過電子顕微鏡研究

Publisher site Copy service {{ this.onShowCLink("http://jdream3.com/copy/?sid=JGLOBAL&noSystem=1&documentNoArray=05A0692362&COPY=1") }}
Access JDreamⅢ for advanced search and analysis. {{ this.onShowJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=05A0692362&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=D0987B") }}

Author (7)： , , , , , ,
Material：
Volume： 20 Issue： 7 Page： 1802-1807 Publication year： Jul. 2005
JST Material Number： D0987B ISSN： 0884-2914 CODEN： JMREEE Document type： Article
Article type：原著論文 Country of issue： United States (USA) Language： ENGLISH (EN)

,...

To see more with JDream III (charged). {{ this.onShowAbsJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=05A0692362&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=D0987B") }}

Electron and ion microscopes , Microscopy determination of structures

, ,

Return to Previous Page