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J-GLOBAL ID：200902203066153312   Reference number：05A0319484

Improved Height Measurement of Single CdSe Colloidal Quantum Dots by Contact-Mode Atomic Force Microscopy Using Carbon Nano-Tube Tips; for the Investigation of Current-Voltage Characteristics

カーボンナノチューブチップを用いた接触モード原子間力顕微鏡による単一CdSeコロイド量子ドットの高さ測定の改善 電流-電圧特性の研究のための

Author (8)： TANAKA Ichiro (Wakayama Univ., Wakayama, JPN) ,  KAJIMOTO Kaori (Wakayama Univ., Wakayama, JPN) ,  UNO Kazuyuki (Wakayama Univ., Wakayama, JPN) ,  OHTSUKI Osamu (Wakayama Univ., Wakayama, JPN) ,  MURASE Tomohide (Mitsubishi Chemical Group Sci. and Technol. Res. Center, Yokohama, JPN) ,  ASAMI Harumi (Mitsubishi Chemical Group Sci. and Technol. Res. Center, Yokohama, JPN) ,  HARA Masahiko (Tokyo Inst. Technol., Yokohama, JPN) ,  KAMIYA Itaru (Toyota Technological Inst., Nagoya, JPN)
Material： Japanese Journal of Applied Physics. Part 2. Letters  (Japanese Journal of Applied Physics. Part 2. Letters & Express Letters)
Volume： 44  Issue： 1-7  Page： L249-L252  Publication year： Feb. 10, 2005 
JST Material Number： F0599B  ISSN： 0021-4922  Document type： Article
Article type： 短報  Country of issue： Japan (JPN)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *cadmium selenide ,...

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JST classification (2)： Semiconductor thin films  (BK14040E) ,  Microscopy determination of structures  (BK01040E)

Reference (19)：

• 1) C. B. Murray, D. J. Norris and M. G. Bawendi: J. Am. Chem. Soc. 115 (1993) 8706.
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• 5) S. Hong and T. Ha: J. Am. Chem. Soc. 126 (2004) 1234.

Terms in the title (7)： 接触モード ,  原子間力顕微鏡 ,  CdSe ,  コロイド量子ドット ,  高さ測定 ,  電圧特性 ,  研究