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J-GLOBAL ID：200902203492772437   Reference number：06A0155370

Direct Measurement of Transient Pulses Induced by Laser and Heavy Ion Irradiation in Deca-Nanometer Devices

デカナノメートル装置におけるレーザおよび重イオン照射に誘起される過渡パルスの直接測定

Author (15)： FERLET-CAVROIS V. (CEA, Bruyeres-le-Chatel, FRA) ,  PAILLET P. (CEA, Bruyeres-le-Chatel, FRA) ,  MCMORROW D. (Naval Res. Lab., Washington, D.C., USA) ,  TORRES A. (CEA, Bruyeres-le-Chatel, FRA) ,  GAILLARDIN M. (ENSERG, Grenoble, FRA) ,  MELINGER J. S. (Naval Res. Lab., Washington, D.C., USA) ,  KNUDSON A. R. (Naval Res. Lab., Washington, D.C., USA) ,  CAMPBELL A. B. (Naval Res. Lab., Washington, D.C., USA) ,  SCHWANK J. R. (Sandia National Lab., NM, USA) ,  VIZKELETHY G. (Sandia National Lab., NM, USA) ,  SHANEYFELT M. R. (Sandia National Lab., NM, USA) ,  HIROSE K. (Inst. Space and Astronautical Sci., Kanagawa, JPN) ,  FAYNOT O. (CEA, Grenoble, FRA) ,  JAHAN C. (CEA, Grenoble, FRA) ,  TOSTI L. (CEA, Grenoble, FRA)
Material： IEEE Transactions on Nuclear Science  (IEEE Trans Nucl Sci)
Volume： 52  Issue： 6,Pt.1  Page： 2104-2113  Publication year： Dec. 2005 
JST Material Number： C0235A  ISSN： 0018-9499  CODEN： IETNAE  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： heavy ion irradiation ,...
Semi thesaurus term： 収集電荷 ,...

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JST classification (2)： Irradiational changes semiconductors  (BK16123E) ,  Measurement,testing and reliability of solid-state devices  (NC03040G)

Terms in the title (5)： レーザ ,  重イオン照射 ,  誘起 ,  パルス ,  直接測定