Art
J-GLOBAL ID：200902206844139330   Reference number：04A0489090

Quick element mapping by projection-type X-ray fluorescence imaging

投影型蛍光X線イメージング法による高速元素マッピング
Author (1)：
SAKURAI KENJI

About SAKURAI KENJI

(物質・材料研究機構 材料研)

About 物質・材料研究機構 材料研


Material：
応用物理  (JSAP International)

About 応用物理


Volume： 73  Issue： 6  Page： 754-758  Publication year： Jun. 10, 2004 
JST Material Number： F0252A  ISSN： 0369-8009  CODEN： OYBSA  Document type： Article
Article type： 解説  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)
Thesaurus term：
Thesaurus term/Semi thesaurus term
Keywords indexed to the article.
All keywords is available on JDreamIII(charged).
On J-GLOBAL, this item will be available after more than half a year after the record posted. In addtion, medical articles require to login to MyJ-GLOBAL.
*X-ray fluorescence analysis

About X-ray fluorescence analysis

,...
Semi thesaurus term：
Thesaurus term/Semi thesaurus term
Keywords indexed to the article.
All keywords is available on JDreamIII(charged).
On J-GLOBAL, this item will be available after more than half a year after the record posted. In addtion, medical articles require to login to MyJ-GLOBAL.
蛍光X線イメージング

About 蛍光X線イメージング


   To see more with JDream III (charged).   {{ this.onShowAbsJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=04A0489090&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=F0252A") }}
JST classification (1)：
JST classification
Category name(code) classified by JST.
Other phsical analysis 
(CC03014E)

About Other phsical analysis

Reference (25)：
  • 飯田厚夫. X線分析の進歩. 2002, 33, 1
  • 飯田厚夫. 放射光マイクロビームと利用研究の展開. 2003
  • TSUJI, K. X-Ray Spectrometry, Recent Technological Advances. 2004
  • JANSSENS, K. Microscopic X-Ray Fluorescence Analysis. 2000
  • BOHIC, S. Appl. Phys. Lett. 2001, 78, 3544
ｍore...
Terms in the title (4)：
Terms in the title
Keywords automatically extracted from the title.
投影

About 投影

, 
蛍光X線

About 蛍光X線

, 
イメージング

About イメージング

, 
元素マッピング

About 元素マッピング


Return to Previous Page

TOP

BOTTOM