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J-GLOBAL ID：200902207181208061   Reference number：09A0587830

Highly Accurate Method for Measuring Ordinary and Extraordinary Refractive Indices of Liquid Crystal Materials, Cell Thickness, and Pretilt Angle of Liquid Crystal Cells Using Ellipsometry

偏光解析法を使用して液晶材の正規と特別屈率,液晶セルのセル厚みとプレチルト角を測定する非常に正確な方法

Author (4)： OHNO Yuji (Tohoku Univ., Sendai, JPN) ,  ISHINABE Takahiro (Tohoku Univ., Sendai, JPN) ,  MIYASHITA Tetsuya (Tohoku Univ., Sendai, JPN) ,  UCHIDA Tatsuo (Tohoku Univ., Sendai, JPN)
Material： Japanese Journal of Applied Physics  (JJAP)
Volume： 48  Issue： 5,Issue 1  Page： 051502.1-051502.9  Publication year： May. 25, 2009 
JST Material Number： G0520B  ISSN： 0021-4922  CODEN： JJAPB6  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： United Kingdom (GBR)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： wavelength ,  amplitude ,  phase (topology) ,  delay ,  Jones matrix ,  interference ,  incidence ,  parameter ,  *liquid crystal display ,  *ellipsometry ,  refractive index

JST classification (1)： Liquid crystals in general  (BK03010L)

Reference (15)：

• T. Uchida: Proc. Int. Display Res. Conf., Euro Display 1981, Munich, 1981, p.39.
• T. Uchida: Opt. Eng. 23(1984) 247.
• T. Uchida, S. Yamamoto, and Y. Shibata: IEEE Trans. Electron Devices 30(1983) 503.
• T. J. Scheffer and T. Nehering: J. Appl. Phys. 48(1977) 1783.
• I. Haller, H. A. Huggins, and M. J. Freiser: Mol. Cryst. Liq. Cryst. 16(1972) 53.

Terms in the title (4)： 偏光解析法 ,  液晶 ,  液晶セル ,  プレチルト角