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J-GLOBAL ID：200902207355852615   Reference number：06A0120730

Principles of x-ray diffraction microscopy

X線回折顕微法の原理

Author (2)： NISHINO YOSHINORI (理研 播磨研 放射光科学総合研究セ) ,  ISHIKAWA TETSUYA (理研 播磨研 放射光科学総合研究セ)
Material： 放射光  (日本放射光学会誌)
Volume： 19  Issue： 1  Page： 3-14  Publication year： Jan. 31, 2006 
JST Material Number： L0956A  ISSN： 0914-9287  Document type： Article
Article type： 解説  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： phase restoration ,...
Semi thesaurus term： X-ray diffraction micrography

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JST classification (1)： Structure of amorphous materials in general  (BK04010S)

Reference (43)：

• GOODMAN, J. W. Introduction to Fourier Optics. 1996
• http://www-xfel.spring8.or.jp/
• 北村英男. 放射光. 2003, 16, 77
• SAYRE, D. Acta Crystallogr. 1952, 5, 843
• SAYRE, D. Imaging Processes and Coherence in Physics. 1980, 229

Terms in the title (1)： 原理