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J-GLOBAL ID：200902207919644848   Reference number：03A0530442

Dimer buckling of the Si(001)2×1 surface below 10K observed by low-temperature scanning tunneling microscopy.

低温走査型トンネル顕微鏡により観察した10K以下のSi(001)2×1表面の2量体バックリング

Author (6)： ONO M (Univ. Tokyo, Kashiwa, JPN) ,  KAMOSHIDA A (Univ. Tokyo, Kashiwa, JPN) ,  MATSUURA N (Univ. Tokyo, Kashiwa, JPN) ,  ISHIKAWA E (Univ. Tokyo, Kashiwa, JPN) ,  EGUCHI T (Univ. Tokyo, Kashiwa, JPN) ,  HASEGAWA Y (Univ. Tokyo, Kashiwa, JPN)
Material： Physical Review. B. Condensed Matter and Materials Physics  (Physical Review. B. Condensed Matter)
Volume： 67  Issue： 20  Page： 201306.1-201306.4  Publication year： May. 2003 
JST Material Number： D0746A  ISSN： 1098-0121  CODEN： PRBMDO  Document type： Article
Article type： 短報  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *silicon ,...

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JST classification (1)： Surface structure of semiconductors  (BK15030A)

Terms in the title (6)： 低温 ,  走査型トンネル顕微鏡 ,  観察 ,  Si ,  2量体 ,  バックリング