Art

J-GLOBAL ID：200902209885266370   Reference number：09A0010533

Spectral phase measurements for broad Raman sidebands by using spectral interferometry

スペクトル干渉測定法を用いた広域Raman側波帯のスペクトル位相測定

Author (3)： SUZUKI Takayuki (Dep. of Applied Physics and Chemistry, The Univ. of Electro-Communications, 1-5-1 Chofugaoka, Chofu-shi, Tokyo ...) ,  SAWAYAMA Naoki (Dep. of Applied Physics and Chemistry, The Univ. of Electro-Communications, 1-5-1 Chofugaoka, Chofu-shi, Tokyo ...) ,  KATSURAGAWA Masayuki (Dep. of Applied Physics and Chemistry, The Univ. of Electro-Communications, 1-5-1 Chofugaoka, Chofu-shi, Tokyo ...)
Material： Optics Letters  (Opt Lett)
Volume： 33  Issue： 23  Page： 2809  Publication year： Dec. 01, 2008 
JST Material Number： H0690A  ISSN： 0146-9592  CODEN： OPLEDP  Document type： Article
Article type： 短報  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *Interferometry ,  *phase measurement ,  wide band ,  *Raman scattering ,  sideband ,  light pulse ,  pulse train ,  femtosecond ,  optical interference ,  sum frequency generation ,  phase plate ,  silica glass ,  *spectral analysis

JST classification (1)： Interferometry and interferometers  (BD07070G)

Terms in the title (5)： スペクトル ,  干渉測定 ,  広域 ,  側波帯 ,  位相測定