Art

J-GLOBAL ID：200902210363828430   Reference number：04A0628688

Hole mobility in organic single crystals measured by a “flip-crystal” field-effect technique

“フリップ結晶”電界効果法によって測定した有機単結晶における正孔移動度

Author (6)： GOLDMANN C (ETH Zurich, Zurich, CHE) ,  HAAS S (ETH Zurich, Zurich, CHE) ,  KRELLNER C (ETH Zurich, Zurich, CHE) ,  PERNSTICH K P (ETH Zurich, Zurich, CHE) ,  GUNDLACH D J (ETH Zurich, Zurich, CHE) ,  BATLOGG B (ETH Zurich, Zurich, CHE)
Material： Journal of Applied Physics  (Journal of General Physics and its Application to Other Sciences and to Industry)
Volume： 96  Issue： 4  Page： 2080-2086  Publication year： Aug. 15, 2004 
JST Material Number： C0266A  ISSN： 0021-8979  CODEN： JAPIAU  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *thin film transistor ,...

   To see more with JDream III (charged).   {{ this.onShowAbsJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=04A0628688&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=C0266A") }}

JST classification (2)： Electric conduction in organic compounds  (BM03045F) ,  Transistors  (NC03070N)

Substance index (3)： Tetracene ,  Pentacene ,  Rubrene

Terms in the title (4)： 結晶 ,  電界効果 ,  単結晶 ,  正孔移動度