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J-GLOBAL ID：200902212292213696   Reference number：07A0593481

Flux-pinning characteristics as a function of density of columnar defects comprised of self-assembled nanodots and nanorods in epitaxial YBa₂Cu₃O_7-δ films for coated conductor applications

被覆処理伝導体応用のためのエピタキシャルYBa₂Cu₃O_7-δにおける自己集合ナノドットおよびナノロッドから構成される柱状欠陥密度の関数としてのフラックスピン止め特性

Author (7)： KANG S. (Oak Ridge National Lab., Oak Ridge, TN 37831, USA) ,  GOYAL A. (Oak Ridge National Lab., Oak Ridge, TN 37831, USA) ,  LI J. (Oak Ridge National Lab., Oak Ridge, TN 37831, USA) ,  MARTIN P. (Oak Ridge National Lab., Oak Ridge, TN 37831, USA) ,  IJADUOLA A. (Oak Ridge National Lab., Oak Ridge, TN 37831, USA) ,  THOMPSON J.r. (Oak Ridge National Lab., Oak Ridge, TN 37831, USA) ,  PARANTHAMAN M. (Oak Ridge National Lab., Oak Ridge, TN 37831, USA)
Material： Physica C. Superconductivity and Its Applications  (Physica C. Superconductivity)
Volume： 457  Issue： 1-2  Page： 41-46  Publication year： Jun. 15, 2007 
JST Material Number： T0580A  ISSN： 0921-4534  Document type： Article
Country of issue： Netherlands (NLD)  Language： ENGLISH (EN)

Terms in the title (10)： 被覆処理 ,  応用 ,  エピタキシャル ,  自己集合 ,  ナノドット ,  ナノロッド ,  欠陥密度 ,  関数 ,  フラックス ,  ピン止め