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J-GLOBAL ID：200902212723776235   Reference number：08A1243102

A pinpoint search system for a specialized research area in physics and engineering : ′′Defect dat@base′′ for defects in semiconductors and semiconductor devices

特定分野の学術論文をピンポイントで抽出し,いかに検索するか? Defect dat@baseの実践例

Author (4)： UMEDA TAKAHIDE (筑波大学大学院図書館情報メディア研究科・知的コミュニティ基盤研究センター) ,  HAGIWARA SHIGERU (筑波大学知的コミュニティ基盤研究センター・非常勤職員) ,  MIZUOCHI NORIKAZU (筑波大学大学院図書館情報メディア研究科・知的コミュニティ基盤研究センター) ,  ISOYA JUN'ICHI (筑波大学大学院図書館情報メディア研究科・知的コミュニティ基盤研究センター)
Material： 情報管理  (月刊JICST)
Volume： 51  Issue： 9  Page： 653-666 (J-STAGE)  Publication year： 2008 
JST Material Number： F0392A  ISSN： 0021-7298  Document type： Article
Article type： 解説  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *document retrieval system ,  *article ,  database ,  document retrieval ,  semiconductor ,  lattice defect ,  academic journal ,  case study

JST classification (1)： Retrieval systems  (AC06030D)

Reference (7)：

• 1) Umeda, T; Hagiwara, S; Mizuochi, N; Isoya, J. “Open web-based databases for defects semiconductors” . The 2006 Gordon Research Conference on Defects in Semiconductors. New London, USA, 2006-07-2/7.
• 2) Umeda, T; Hagiwara, S; Mizuochi, N; Isoya, J. “Development of web-based database system for EPR centers in semiconductors”. The 23rd International Conference on Defects in Semiconductors (ICDS-23). Awaji-island, Japan, 2005-07-24/29. A web-based database system for EPR centers in Semiconductors. Physica B. 2006, vol.376-377, p.249-252.
• 3) Sze, S. M; “Nanoelectronic technology: Challenges in the 21st century”. International Conference on Solid State Devices and Materials (SSDM). Tsukuba, Japan, 2008-09-23/26.
• 4) Hammond, T; Hannay, T; Lund, B; Scott, J. Socail bookmarking tools (I): A general overview. D-Lib Magazine. 2005, vol.11, no.4.
• 5) Robinson, G. A statistical approach to the spam problem. LINUX journal. 2003, http://www.linuxjournal.com/article/6467/, (accessed 2008-10-01).

Terms in the title (3)： 学術論文 ,  ポイント ,  検索