Art

J-GLOBAL ID：200902213518117977   Reference number：04A0726656

Establishment of technology for active nano measurement. Observation of cracking progress on ceramics by in-situ TEM observation.

アクティブ・ナノ計測基盤技術の確立 TEM内その場観察法によるセラミックスの亀裂進展挙動

Author (5)： I SEIICHIRO (東大 工) ,  IWAMOTO TOMOHIRO (東大 工) ,  MATSUNAGA KATSUSHI (東大 工) ,  YAMAMOTO TAKEHISA (東大 大学院新領域創成科学研究科) ,  IKUHARA YUICHI (東大 工)
Material： 第2回ナノテクノロジー総合シンポジウム講演予稿集 文部科学省ナノテクノロジー総合支援プロジェクト 平成16年
Page： 208-209  Publication year： 2004 
JST Material Number： N20041771  Document type： Proceedings
Article type： 短報  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *ceramics ,...
Semi thesaurus term： CIT法

   To see more with JDream III (charged).   {{ this.onShowAbsJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=04A0726656&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=N20041771") }}

JST classification (3)： Properties of ceramics and ceramic whiteware  (YC03030G) ,  Ceramic material testing  (HB04000M) ,  Microscopy determination of structures  (BK01040E)

Terms in the title (7)： ナノ計測 ,  基盤技術 ,  TEM ,  その場観察 ,  セラミックス ,  亀裂進展 ,  挙動