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J-GLOBAL ID：200902214810244978   Reference number：05A0244161

X-ray wavefront analysis and optics characterization with a grating interferometer

X線波面解析および格子干渉計を用いた光学キャラクタリゼーション

Author (5)： WEITKAMP T (Paul Scherrer Inst., Villigen, CHE) ,  NOEHAMMER B (Paul Scherrer Inst., Villigen, CHE) ,  DIAZ A (Paul Scherrer Inst., Villigen, CHE) ,  DAVID C (Paul Scherrer Inst., Villigen, CHE) ,  ZIEGLER E (European Synchrotron Radiation Facility, Grenoble, FRA)
Material： Applied Physics Letters  (Appl Phys Lett)
Volume： 86  Issue： 5  Page： 054101.1-054101.3  Publication year： Jan. 31, 2005 
JST Material Number： H0613A  ISSN： 0003-6951  CODEN： APPLAB  Document type： Article
Article type： 短報  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： X-ray analysis ,...
Semi thesaurus term： transient grating method

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JST classification (2)： X-ray instruments and techniques  (BA02060D) ,  Interferometry and interferometers  (BD07070G)

Terms in the title (7)： X線 ,  波面 ,  解析 ,  格子 ,  干渉計 ,  光学 ,  キャラクタリゼーション