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J-GLOBAL ID：200902215032997773   Reference number：03A0659175

Development of New Characteristic Impedance Measurement Method Using Sinusoidal Wave TDR

正弦波を用いたTDR法による特性インピーダンス測定法の開発

Author (3)： SAKUSABE TAKASHI (拓殖大 工) ,  TAKAHASHI TAKEHIRO (拓殖大 工) ,  SHIBUYA NOBORU (拓殖大 工)
Material： エレクトロニクス実装学会誌  (Journal of Japan Institute of Electronics Packaging)
Volume： 6  Issue： 6  Page： 516-519  Publication year： Sep. 01, 2003 
JST Material Number： S0579C  ISSN： 1343-9677  Document type： Article
Article type： 短報  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *printed board ,...
Semi thesaurus term： *OTDR ,...

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JST classification (2)： Printed circuits  (NA05040O) ,  Measuring methods and instruments of R,L,C,Q, and dielectric constant  (AD07030N)

Reference (3)：

• 平山博. 電気回路論. 2003
• タイムドメインリフレクトメトリの原理. Agilent アプリケーションノート. 2002
• 澁谷昇. 信号信頼性とEMC. エレクトロニクス実装学会誌. 2002, 5, 2, 192-196

Terms in the title (5)： 正弦波 ,  TDR法 ,  特性インピーダンス ,  測定法 ,  開発