Art

J-GLOBAL ID：200902217423569876   Reference number：08A0585934

Field Emission from W Tips Sharpened by Field-Assisted Nitrogen and Oxygen Etching

電場アシスト窒素及び酸素のエッチングにより鋭利にしたWチップからの電界放出

Author (3)： ONODA Jo (Dep. of Molecular and Material Sciences, Kyushu Univ., JPN) ,  RAHMAN Faridur (Dep. of Molecular and Material Sciences, Kyushu Univ., JPN) ,  MIZUNO Seigi (Dep. of Molecular and Material Sciences, Kyushu Univ., JPN)
Material： e-Journal of Surface Science and Nanotechnology (Web)  (表面科学とナノテクノロジー)
Volume： 6  Page： 152-156 (J-STAGE)  Publication year： 2008 
JST Material Number： U0016A  ISSN： 1348-0391  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Japan (JPN)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *Tungsten ,  *electrode tip ,  *field emission ,  field emission electron microscope ,  crystal face ,  *field ion microscope ,  voltage dependence ,  current-voltage characteristic ,  *etching ,  electric field effect ,  single crystal ,  acute angle ,  shape effect ,  Nitrogen ,  Oxygen

JST classification (3)： Electron and ion microscopes  (BD02050B) ,  Thermoionic emission and field emission  (BM09020S) ,  Experimental research on molecular structure and properties  (CB01020I)

Reference (18)：

• [1] H. W. Fink, IBM. J. Res. Develop. 30, 460 (1986).
• [2] H. W. Fink, Physica Scripta 38, 260 (1988).
• [3] V. T. Binh and N. Garcia, J. Phys. I (France) 1, 605 (1991).
• [4] V. T. Binh, S. T. Purcell, N. Garcia, and J. Doglioni, Phys. Rev. Lett. 69, 2527 (1992).
• [5] K. Nagaoka, H. Fujii, K. Matsuda, M. Komaki, Y. Murata, C. Oshima, and T. Sakurai, Appl. Surf. Sci. 182, 12 (2001).

Terms in the title (6)： 電場 ,  アシスト ,  窒素 ,  酸素 ,  エッチング ,  電界放出