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J-GLOBAL ID：200902218184701305   Reference number：05A0764931

Distribution Measurement of Thermal Effusivity for YBCO Thin-film Superconducting Material Using Thermal Microscope

超電導材料特性計測技術-マッピング技術の進展を中心として-局所熱浸透率測定装置を用いたYBCO薄膜の熱浸透率の分布測定

Author (3)： IKEUCHI SATOAKI (産業技術総合研 計測標準研究部門) ,  YAGI TAKASHI (産業技術総合研 計測標準研究部門) ,  KATO HIDEYUKI (産業技術総合研 計測標準研究部門)
Material： 低温工学  (Journal of Cryogenics and Superconductivity Society of Japan)
Volume： 40  Issue： 8  Page： 335-339  Publication year： Aug. 25, 2005 
JST Material Number： S0846A  ISSN： 0389-2441  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *superconducting thin film ,...
Semi thesaurus term： 熱浸透率

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JST classification (1)： Properties of superconductors in general  (BM04021A)

Reference (10)：

• 1) N. Taketoshi, T. Baba and A. Ono: “Development of a thermal diffusivity measurement system for metal thin films using a picosecond thermoreflectance technique”, Meas. Sci. Technol. 12 (2001) 2064-2073
• 2) N. Taketoshi, M. Ozawa, H. Ozawa and T. Baba: “Thermal effusivity distribution measurements using a thermoreflectance technique”, in Proceeding of 10th International Conference of Photoacoustic and Photothermal Phenomena, (1999) 315
• 3) A. Rosencwaing, J. Opsal, W. L. Smith and D. L. Willenborg: “Detection of thermal waves through optical reflectance”, Appl. Phys. Lett. 46 (1985) 1013-1016
• 4) T. Manabe, M. Sohma, I. Yamaguchi, W. Kondo, K. Tsukada, S. Mizuta and T. Kumagai: “Preparation of high-J_c large-size YBCO films (30 × 10 cm²) by coating-pyrolysis process on CeO₂-buffered sapphire”, Physica C 412-414 (2004) 896-899
• 5) T. Yagi, N. Taketoshi and H. Kato: “Distribution analysis of thermal effusivity for sub-micrometer YBCO thin films using thermal microscope”, Physica C 412-414 (2004) 1337-1342

Terms in the title (9)： 超電導 ,  材料特性 ,  計測技術 ,  マッピング ,  進展 ,  熱浸透率 ,  測定装置 ,  YBCO薄膜 ,  分布