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J-GLOBAL ID：200902219342511515   Reference number：05A0244165

Compact continuous-wave subterahertz system for inspection applications

検査へ応用するためのコンパクトな連続波サブテラヘルツシステム

Author (7)： KARPOWICZ N (Rensselaer Polytechnic Inst., New York) ,  ZHONG H (Rensselaer Polytechnic Inst., New York) ,  ZHANG C (Rensselaer Polytechnic Inst., New York) ,  LIN K-I (Rensselaer Polytechnic Inst., New York) ,  HWANG J-S (Rensselaer Polytechnic Inst., New York) ,  XU J (Rensselaer Polytechnic Inst., New York) ,  ZHANG X-C (Rensselaer Polytechnic Inst., New York)
Material： Applied Physics Letters  (Appl Phys Lett)
Volume： 86  Issue： 5  Page： 054105.1-054105.3  Publication year： Jan. 31, 2005 
JST Material Number： H0613A  ISSN： 0003-6951  CODEN： APPLAB  Document type： Article
Article type： 短報  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： Gunn diode ,...

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JST classification (2)： Nondestructive testing  (HB02030F) ,  Oscillation circuits  (NC05020Y)

Terms in the title (4)： 検査 ,  応用 ,  連続波 ,  サブテラヘルツ