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J-GLOBAL ID：200902225516917095   Reference number：08A0316618

Crystal Morphology Analysis of Piezoelectric Ceramics by Electron BackScatter Diffraction Method and Application to Multiscale Finite Element Analysis

電子線後方散乱法による圧電セラミックスの結晶形態分析とそれを用いたマルチスケール有限要素解析

Author (6)： UETSUJI YASUTOMO (大阪工大 工) ,  SATO YU (大阪工大 工) ,  NAGAKURA HIDEYUKI (大阪工大 大学院工学研究科) ,  NISHIOKA HISANAO (大阪工大 大学院工学研究科) ,  KURAMAE HIROYUKI (大阪工大 工) ,  TSUCHIYA KAZUYOSHI (東海大 工)
Material： 日本機械学会論文集 A編  (Transactions of the Japan Society of Mechanical Engineers. Series A)
Volume： 74  Issue： 739  Page： 342-347  Publication year： Mar. 25, 2008 
JST Material Number： F0227B  ISSN： 0387-5008  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *ceramics ,  *piezoelectrics ,  *crystal morphology ,  analysis ,  electron diffraction ,  backward scattering ,  osmium ,  crystal orientation ,  X-ray diffraction ,  atomic force microscope ,  finite element method ,  numerical analysis ,  antistatics ,  lead zirconate titanate
Semi thesaurus term： PZT ,  EBSD ,  multiscale analysis

JST classification (3)： Ferroelectrics,antiferroelectrics and ferroelasticity  (BM05030B) ,  Crystal structure of metal oxides and chalcogenides  (BK07020Y) ,  Numerical analysis,approximation method  (AB04000F)

Reference (11)：

• VENABLES, J. Electron Back Scattering Patterns-A New Technique for Obtaining Crystallographic Information in the Scanning Electron Microscope. Philosophical Magazine. 1973, 27, 1193-1200
• DINGLEY, D. Journal of Material Science. 1992, 27, 4545-4566
• KONDOU, R. Estimation of Active Slip Plane in Tensile Plastic Deformation of Polycrystalline Copper with EBSD Method. Transaction of the Japan Society of Mechanical Engineers. 2003, 69, 681,A, 924-931
• SHIMIZU, K. Measurement of Crystal Orientation around the Fatigue Crack in Iron Films Using EBSD Method. Journal of the Society of Materials Science Japan. 2004, 53, 9, 987-993
• YASUTOMI, Y. Evaluation of Crystallographic Orientation Analyses in Ceramics by Electron Back Scattering Patterns (EBSP) Method. Bulletin of the Ceramic Society of Japan. 2002, 37, 2, 84-86

Terms in the title (7)： 電子線 ,  後方散乱 ,  圧電セラミックス ,  結晶形態 ,  分析 ,  マルチスケール ,  有限要素解析