Art

J-GLOBAL ID：200902225871821635   Reference number：08A1243493

Step-bunched Bi-terminated Si(111) surfaces as a nanoscale orientation template for quasisingle crystalline epitaxial growth of thin film phase pentacene

ペンタセン薄膜相の擬単結晶エピタクシー成長用ナノスケール配向鋳型としてのステップバンチのBi末端Si(111)表面

Author (9)： SHIMADA Toshihiro (Dep. of Chemistry, The Univ. of Tokyo, Bunkyo-ku, Tokyo 113-0033, JPN) ,  OHTOMO Manabu (Dep. of Chemistry, The Univ. of Tokyo, Bunkyo-ku, Tokyo 113-0033, JPN) ,  SUZUKI Tadamasa (Dep. of Chemistry, The Univ. of Tokyo, Bunkyo-ku, Tokyo 113-0033, JPN) ,  HASEGAWA Tetsuya (Dep. of Chemistry, The Univ. of Tokyo, Bunkyo-ku, Tokyo 113-0033, JPN) ,  UENO Keiji (Dep. of Chemistry, Saitama Univ., Saitama 338-8570, JPN) ,  IKEDA Susumu (Dep. of Complexity Sciences and Engineering, The Univ. of Tokyo, Kashiwa 277-8561, JPN) ,  SAIKI Koichiro (Dep. of Complexity Sciences and Engineering, The Univ. of Tokyo, Kashiwa 277-8561, JPN) ,  SASAKI Miho (Rigaku Corp., 3-9-12 Matsubara-cho, Akishima, Tokyo 196-8666, JPN) ,  INABA Katsuhiko (Rigaku Corp., 3-9-12 Matsubara-cho, Akishima, Tokyo 196-8666, JPN)
Material： Applied Physics Letters  (Appl Phys Lett)
Volume： 93  Issue： 22  Page： 223303  Publication year： Dec. 01, 2008 
JST Material Number： H0613A  ISSN： 0003-6951  CODEN： APPLAB  Document type： Article
Article type： 短報  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *organic semiconductor ,  semiconductor thin film ,  *epitaxy ,  silicon ,  scale ,  *template effect ,  *vicinal surface ,  surface steps ,  alignment ,  bismuth ,  metallic thin film ,  RHEED ,  atomic force microscope ,  surface structure ,  low energy electron diffraction ,  *evaporated film ,  polyacene
Semi thesaurus term： nanoscale ,  alignment ,  LEED

JST classification (1)： Thin films of organic compounds  (BK14070L)

Substance index (1)： Pentacene

Terms in the title (9)： ペンタセン ,  薄膜 ,  単結晶エピタクシー ,  成長 ,  ナノスケール ,  配向 ,  鋳型 ,  Bi ,  Si