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J-GLOBAL ID：200902227103945794   Reference number：05A0250491

Problems of plant root (140). Detection of specific distribution of silicon in leaves and roots using X-ray microanalysis.

植物の根に関する諸問題〔140〕-X線微量分析を用いた葉や根におけるケイ素の特異的分布の検出-

Author (7)： ABE JUN (東大 大学院農学生命科学研究科) ,  LUX A (コメニウス大 理) ,  HATTORI TAICHIRO (鳥取大 乾燥地研究セ) ,  MORITA SHIGENORI (東大 大学院農学生命科学研究科) ,  TANIMOTO EIICHI (名古屋市大 大学院システム自然科学研究科) ,  INANAGA SHINOBU (鳥取大 乾燥地研究セ) ,  AN P (鳥取大 乾燥地研究セ)
Material： 農業および園芸  (Agriculture and Horticulture)
Volume： 80  Issue： 3  Page： 381-386  Publication year： Mar. 01, 2005 
JST Material Number： G0801A  ISSN： 0369-5247  CODEN： NOOEA  Document type： Article
Article type： 解説  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *silicon ,...
Semi thesaurus term： X線微量分析

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JST classification (2)： Research methods in botany  (EH01020C) ,  Plant nutrition  (EH02060B)

Terms in the title (8)： 植物 ,  根 ,  問題 ,  X線 ,  微量分析 ,  葉 ,  ケイ素 ,  分布