Art

J-GLOBAL ID：200902229180178278   Reference number：08A0945451

Charge-density-wave origin of cuprate checkerboard visualized by scanning tunnelling microscopy

走査型トンネル顕微鏡によって解明した電荷密度波による銅チェッカーボードの起源

Author (9)： WISE W. D. (Massachusetts Inst. Technol., Massachusetts, USA) ,  BOYER M. C. (Massachusetts Inst. Technol., Massachusetts, USA) ,  CHATTERJEE Kamalesh (Massachusetts Inst. Technol., Massachusetts, USA) ,  KONDO Takeshi (Massachusetts Inst. Technol., Massachusetts, USA) ,  KONDO Takeshi (Nagoya Univ., Nagoya, JPN) ,  TAKEUCHI T. (Nagoya Univ., Nagoya, JPN) ,  IKUTA H. (Nagoya Univ., Nagoya, JPN) ,  WANG Yayu (Massachusetts Inst. Technol., Massachusetts, USA) ,  HUDSON E. W. (Massachusetts Inst. Technol., Massachusetts, USA)
Material： Nature Physics  (Nat Phys)
Volume： 4  Issue： 9  Page： 696-699  Publication year： Sep. 2008 
JST Material Number： W2060A  ISSN： 1745-2473  Document type： Article
Article type： 短報  Country of issue： United Kingdom (GBR)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *scanning tunneling microscope ,  *charge density wave ,  *high temperature superconductor ,  pseudogap ,  *oxide ,  *copper compound ,  strontium compound ,  bismuth compound ,  *doping ,  photoelectron spectrum ,  lead compound ,  lanthanum compound ,  band structure

JST classification (1)： Properties of oxide superconductors  (BM04023I)

Terms in the title (6)： 走査型トンネル顕微鏡 ,  電荷密度波 ,  銅 ,  チェッカー ,  ボード ,  起源