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J-GLOBAL ID：200902235638348615   Reference number：09A0728640

Structure Analysis of a Submicrometer-Scale Single Powder Grain by the Pinpoint Structural Measurement

X線ピンポイント構造計測による粉末試料1粒からの単結晶構造解析

Author (5)： YASUDA NOBUHIRO (高輝度光科学研究セ) ,  FUKUYAMA YOSHIMITSU (高輝度光科学研究セ) ,  KIM Jungeun (高輝度光科学研究セ) ,  KIMURA SHIGERU (高輝度光科学研究セ) ,  MURAYAMA HARUNO (中央大 理工)
Material： 日本結晶学会誌  (Journal of the Crystallographic Society of Japan)
Volume： 51  Issue： 3  Page： 201-204  Publication year： Jun. 30, 2009 
JST Material Number： G0232A  ISSN： 0369-4585  CODEN： NKEGAF  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *powder ,  *X-ray diffraction ,  *structure analysis ,  crystal structure ,  *barium titanate ,  *fine particle ,  zone plate
Semi thesaurus term： powder

JST classification (1)： X-ray diffraction methods  (BK01020I)

Reference (8)：

• 1) C. Riekel, M. Burghammer and G. Schertler: Curr. Opin. Struct. Biol. 15, 556 (2005).
• 2) C. Volkringer, D. Popov, T. Loiseau, N. Guillou, G. Ferey, M. Haouas, F. Taulelle, C. Mellot-Draznieks, M. Burghammer and C. Riekel: Nat. Mater. 6, 760 (2007).
• 3) 木村 滋, 田中義人:日本結晶学会誌 50, 354 (2008).
• 4) Y. Fukuyama, N. Yasuda, J. E. Kim, H. Murayama, Y. Tanaka, S. Kimura, K. Kato, S. Kohara, Y. Moritomo, T. Matsunaga, R. Kojima, N. Yamada, H. Tanaka, T. Ohshima and M. Takata: Appl. Phys. Express 1, 045001 (2008).
• 5) Y. Tanaka, Y. Fukuyama, N. Yasuda, J. Kim, H. Murayama, S. Kohara, H. Osawa, T. Nakagawa, S. Kimura, K. Kato, F. Yoshida, H. Kamioka, Y. Moritomo, T. Matsunaga, R. Kojima, N. Yamada, K. Toriumi, T. Ohshima, H. Tanaka and M. Takata: Jpn. J. Appl. Phys., 48, 03A001 (2009).

Terms in the title (3)： X線 ,  計測 ,  単結晶構造解析