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J-GLOBAL ID：200902240475138832   Reference number：08A1154446

Growth process of Ba-poor YBCO film fabricated by TFA-MOD process

TFA-MODプロセスによって成膜したB不足YBCO膜の成長プロセス

Author (12)： TADA K. (Kyushu Univ., Fukuoka, JPN) ,  YOSHIDA J. (Kyushu Univ., Fukuoka, JPN) ,  MORI N. (Kyushu Univ., Fukuoka, JPN) ,  YAMADA K. (Kyushu Univ., Fukuoka, JPN) ,  TERANISHI R. (Kyushu Univ., Fukuoka, JPN) ,  MUKAIDA M. (Kyushu Univ., Fukuoka, JPN) ,  KISS T. (Kyushu Univ., Fukuoka, JPN) ,  INOUE M. (Kyushu Univ., Fukuoka, JPN) ,  SHIOHARA Y. (ISTEC, Tokyo, JPN) ,  IZUMI T. (ISTEC, Tokyo, JPN) ,  MATSUDA J. (ISTEC, Tokyo, JPN) ,  NAKAOKA K. (ISTEC, Tokyo, JPN)
Material： Advances in Superconductivity  (Proceedings of the International Symposium on Superconductivity)
Volume： 20th  Page： 1554-1558  Publication year： 2008 
JST Material Number： L1458A  Document type： Proceedings
Article type： 原著論文  Country of issue： Japan (JPN)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *YBCO thin film ,  pore diameter ,  pore structure ,  critical current density ,  X-Ray Diffraction ,  scanning electron microscope ,  *transmission electron microscope ,  electron microscopy ,  energy dispersive diffraction ,  crystal structure ,  aliphatic carboxylic acid ,  aliphatic fluorine compound ,  composition dependence ,  *critical current density (superconductivity)
Semi thesaurus term： *MOD method

JST classification (2)： Properties of oxide superconductors  (BM04023I) ,  Oxide thin films  (BK14050P)

Substance index (1)： Trifluoroacetic Acid

Terms in the title (5)： TFA ,  プロセス ,  成膜 ,  YBCO膜 ,  成長