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J-GLOBAL ID：200902242793549968   Reference number：06A0916180

Imaging of high-angle annular dark-field scanning transmission electron microscopy and observations of GaN-based violet laser diodes

高-角度環状暗-視野走査透過電子顕微鏡法のイメージングおよびGaN-ベース紫レーザーダイオードの観察

Author (3)： SHIOJIRI M. (Kanazawa Medical Univ., Iahikawa, JPN) ,  SHIOJIRI M. (Kyoto Inst. Technol., Kyoto, JPN) ,  SAIJO H. (Kyoto Inst. Technol., Kyoto, JPN)
Material： Journal of Microscopy  (J Microsc)
Volume： 223  Issue： 3  Page： 172-178  Publication year： Sep. 2006 
JST Material Number： B0454B  ISSN： 0022-2720  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： United Kingdom (GBR)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *diode ,...

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JST classification (1)： Semiconductor lasers  (BD04070L)

Terms in the title (9)： 高 ,  環状 ,  視野 ,  走査透過電子顕微鏡 ,  イメージング ,  GaN ,  紫 ,  レーザーダイオード ,  観察