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J-GLOBAL ID：200902243708339247   Reference number：04A0442858

Development of ion attachment mass spectrometry and its applications

イオン付着質量分析法の開発と応用

Author (7)： SHIOKAWA YOSHIRO (アネルバテクニクス) ,  NAKAMURA MEGUMI (アネルバテクニクス) ,  MARUYAMA HARUMI (アネルバテクニクス) ,  HIRANO YOSHIKI (アネルバテクニクス) ,  TANEDA YASUYUKI (アネルバテクニクス) ,  INOUE MASAKO (アネルバテクニクス) ,  FUJII TOSHIHIRO (アネルバテクニクス)
Material： 分析化学
Volume： 53  Issue： 6  Page： 475-489  Publication year： Jun. 05, 2004 
JST Material Number： F0008A  ISSN： 0525-1931  CODEN： BNSKAK  Document type： Article
Article type： 解説  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *mass spectrometry ,...

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JST classification (1)： Mass spectrometry  (CC03013N)

Reference (46)：

• 1) F. H. Field, J. L. Franklin: "Electron Impact Phenomena and the Properties of Gaseous Ions", (1957), (Academic Press, New York).
• 2) J. R. Chapman: "Practical Organic Mass Spectrometry", 2nd edition, (1993), (Wiley and Sons, London).
• 3) F. Field, M. Munson: J. Amer. Chem. Soc., 87, 3289 (1965).
• 4) H. D. Beckey: "Principles of Field Ionization and Field Desorption Mass Spectrometry", (1977), (Pergamon, London).
• 5) J. B. Fenn: Science, 246, 64 (1989).

Terms in the title (3)： イオン付着質量分析 ,  開発 ,  応用