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J-GLOBAL ID：200902248431481743   Reference number：08A1065639

“視る”技術が導く新しい高分子材料の分析・評価技術 放射光X線顕微鏡によるマイクロ分析イメージング

Author (1)： KAGOSHIMA YASUSHI (兵庫県大 大学院物質理学研究科)
Material： ポリファイル  (Polyfile)
Volume： 45  Issue： 10  Page： 40-45  Publication year： Oct. 10, 2008 
JST Material Number： S0870A  ISSN： 0910-2175  Document type： Article
Article type： 解説  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： soft X-ray ,  hard X-ray ,  image processing ,  microanalysis ,  probe ,  optical element ,  lens(optics) ,  image formation(optics) ,  interferometer ,  synchrotron radiation ,  *X-ray microscope ,  *analysis(separation)
Semi thesaurus term： imaging ,  synchrotron radiation ,  micro analysis

JST classification (2)： Analytical instruments  (CC02020S) ,  Microscopy determination of structures  (BK01040E)

Terms in the title (7)： 高分子材料 ,  分析 ,  評価 ,  放射光 ,  X線顕微鏡 ,  マイクロ分析 ,  イメージング