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J-GLOBAL ID：200902248522754572   Reference number：06A0173268

De-Embedding Transmission Line Measurements for Accurate Modeling of IC Designs

IC設計の精密モデリングに対するディ-エンベッディング(De-Embedding)伝送線路測定

Author (4)： MANGAN Alain M. (Univ. Toronto, ON, CAN) ,  VOINIGESCU Sorin P. (Univ. Toronto, ON, CAN) ,  YANG Ming-Ta (TSMC, Hsinchu, TWN) ,  TAZLAUANU Mihai (Quake Technol. Inc., ON, CAN)
Material： IEEE Transactions on Electron Devices  (IEEE Trans Electron Devices)
Volume： 53  Issue： 2  Page： 235-241  Publication year： Feb. 2006 
JST Material Number： C0222A  ISSN： 0018-9383  CODEN： IETDAI  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *circuit design ,...
Semi thesaurus term： ディ-エンベッディング ,...

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JST classification (3)： General  (NC03161C) ,  Transmission lines  (NC04030C) ,  Communication measurement in general  (ND03000R)

Terms in the title (4)： IC設計 ,  精密 ,  モデリング ,  伝送線路