Art

J-GLOBAL ID：200902249052459796   Reference number：03A0534457

Component spatial pattern analysis of chemicals using terahertz spectroscopic imaging

テラヘルツ分光画像を用いた化学薬品の成分空間形状解析

Author (6)： WATANABE Y (RIKEN, Wako, JPN) ,  KAWASE K (RIKEN, Wako, JPN) ,  IKARI T (RIKEN, Wako, JPN) ,  ITO H (RIKEN, Sendai, JPN) ,  ISHIKAWA Y (RIKEN, Sendai, JPN) ,  MINAMIDE H (RIKEN, Sendai, JPN)
Material： Applied Physics Letters  (Appl Phys Lett)
Volume： 83  Issue： 4  Page： 800-802  Publication year： Jul. 28, 2003 
JST Material Number： H0613A  ISSN： 0003-6951  CODEN： APPLAB  Document type： Article
Article type： 短報  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *submillimeter wave ,...

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JST classification (1)： Infrared photometry and photodetectors  (BD07032W)

Terms in the title (3)： テラヘルツ分光 ,  化学薬品 ,  形状解析