Art

J-GLOBAL ID：200902250101526036   Reference number：03A0434678

Atomic Resolution Imaging of a Carbon Nanotube from Diffraction Intensities

回折強度からのカーボンナノチューブの原子分解能イメージング

Author (5)： ZUO J M (Univ. Illinois at Urbana-Champaign, IL, USA) ,  VARTANYANTS I (Univ. Illinois at Urbana-Champaign, IL, USA) ,  GAO M (Univ. Illinois at Urbana-Champaign, IL, USA) ,  ZHANG R (Motorola Lab., AZ, USA) ,  NAGAHARA L A (Motorola Lab., AZ, USA)
Material： Science
Volume： 300  Issue： 5624  Page： 1419-1421  Publication year： May. 30, 2003 
JST Material Number： E0078A  ISSN： 0036-8075  CODEN： SCIEA  Document type： Article
Article type： 短報  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *electron diffraction ,...
Semi thesaurus term： Nyquist周波数

   To see more with JDream III (charged).   {{ this.onShowAbsJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=03A0434678&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=E0078A") }}

JST classification (1)： Electron diffraction methods  (BK01030T)

Terms in the title (4)： 回折強度 ,  カーボンナノチューブ ,  原子分解能 ,  イメージング