Art

J-GLOBAL ID：200902250536089940   Reference number：06A0981766

Three-dimensional visualization of the inner structure of single crystals by step-scanning white X-ray section topography

ステップ走査白色X線断面トポグラフィーによる単結晶内部構造の三次元可視化

Author (4)： MUKAIDE Taihei (CANON Inc., JPN) ,  KAJIWARA Kentaro (Japan Synchrotron Radiation Res. Inst., JPN) ,  NOMA Takashi (CANON Inc., JPN) ,  TAKADA Kazuhiro (CANON Inc., JPN)
Material： Journal of Synchrotron Radiation  (J Synchrotron Radiat)
Volume： 13  Issue： 6  Page： 484-488  Publication year： Nov. 2006 
JST Material Number： W0763A  ISSN： 0909-0495  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *single crystal ,...

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JST classification (2)： X-ray diffraction methods  (BK01020I) ,  Experimental techniques of observation of lattice defects  (BK12020U)

Terms in the title (6)： 走査 ,  白色X線 ,  トポグラフィー ,  単結晶 ,  内部構造 ,  三次元可視化