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J-GLOBAL ID：200902250673104175   Reference number：04A0668803

Linear Equivalent Circuit and Current Source for I/O (LECCS-I/O) Modeling of IC Power Current for EMI Simulation

I/O特性を加味した線形等価回路と電流源によるEMIシミュレーション用IC電源電流モデリング(LECCS-I/O)

Author (5)： OSAKA H (Okayama Univ., Okayama) ,  TANAKA D (Okayama Univ., Okayama) ,  WADA O (Okayama Univ., Okayama) ,  TOYOTA Y (Okayama Univ., Okayama) ,  KOGA R (Okayama Univ., Okayama)
Material： エレクトロニクス実装学会誌  (Journal of Japan Institute of Electronics Packaging)
Volume： 7  Issue： 6  Page： 517-524  Publication year： Sep. 01, 2004 
JST Material Number： S0579C  ISSN： 1343-9677  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Japan (JPN)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *electromagnetic compatibility (interference) ,...
Semi thesaurus term： 電源モデル ,...

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JST classification (3)： Noise in general  (ND04010J) ,  Power source circuit  (NC05060Q) ,  CAD,CAM  (JE10000A)

Reference (11)：

• WADA, O. Power Current Model of Digital IC with Internal Impedance for Power Decoupling Simulation. 4th European Symposium on Electromagnetic Compatibility Proceedings, Sep. 2000. 2000, 2, 315-320
• WADA, O. High Speed Simulation of PCB Emission and Immunity with Frequency-Domain IC/LSI Source Mode. 2003 IEEE Symp. on Electromagnetic Compatibility, Boston, MA, USA, Aug. 2003. 2003, 4-9
• TAKAHASHI, E. EVALUATION OF LSI IMMUNITY TO NOISE USING AN EQUIVALENT INTERNAL IMPEDANCE MODEL. EMC EUROPE 2002 Int'l. Symp. on Electromagnetic Compatibility, Sorrento, Sep. 2002. 2002, 487-492
• SHIMAZAKI, K. LEMINGS : LSI's EMI-Noise analysis with Gate level Simulator. ISQED2000, Mar. 2000, 129-136
• LEVANT, J. Power Supply Network Modeling. Proc. of EMC COMPO 02, Nov. 2002. 2002, 75-78

Terms in the title (7)： 線形 ,  等価回路 ,  電流源 ,  EMI ,  シミュレーション ,  IC ,  モデリング