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J-GLOBAL ID：200902253740466299   Reference number：05A0054398

Analysis of Body-Tie Effects on SEU Resistance of Advanced FD-SOI SRAMs Through Mixed-Mode 3-D Simulations

混合モード3次元シミュレーションによる改良型FD-SOI SRAMのSEU耐性に与えるボディタイ効果の解析

Author (7)： HIROSE K (Inst. Space and Astronautical Sci., Kanagawa, JPN) ,  SAITO H (Inst. Space and Astronautical Sci., Kanagawa, JPN) ,  FUKUDA S (Inst. Space and Astronautical Sci., Kanagawa, JPN) ,  KURODA Y (Mitsubishi Heavy Ind. Ltd., Aichi, JPN) ,  ISHII S (Mitsubishi Heavy Ind. Ltd., Aichi, JPN) ,  TAKAHASHI D (Mitsubishi Heavy Ind. Ltd., Aichi, JPN) ,  YAMAMOTO K (Mitsubishi Heavy Ind. Ltd., Aichi, JPN)
Material： IEEE Transactions on Nuclear Science  (IEEE Trans Nucl Sci)
Volume： 51  Issue： 6,Pt.2  Page： 3349-3353  Publication year： Dec. 2004 
JST Material Number： C0235A  ISSN： 0018-9499  CODEN： IETNAE  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *SRAM ,...

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JST classification (2)： Irradiational changes semiconductors  (BK16123E) ,  Semiconductor integrated circuit  (NC03162T)

Terms in the title (9)： 混合モード ,  3次元シミュレーション ,  SOI ,  SRAM ,  SEU ,  耐性 ,  ボディ ,  タイ ,  解析