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J-GLOBAL ID：200902257993450661   Reference number：08A1188598

Determination of carrier mobility of amorphous organic electronic material by thin film transistor configuration

薄膜トランジスター配置によるアモルファス有機電子材料のキャリア移動度の測定

Author (3)： CHEUNG C. H. (Hong Kong Baptist Univ., Hong Kong, CHN) ,  TSUNG K. K. (Hong Kong Baptist Univ., Hong Kong, CHN) ,  SO S. K. (Hong Kong Baptist Univ., Hong Kong, CHN)
Material： Proceedings of SPIE  (Proceedings. SPIE - The International Society for Optical Engineering)
Volume： 7051  Page： 70511M.1-70511M.9  Publication year： 2008 
JST Material Number： D0943A  ISSN： 0277-786X  CODEN： PSISDG  Document type： Proceedings
Article type： 原著論文  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *thin film transistor ,  *amorphous semiconductor ,  *carrier mobility ,  insulating film ,  dielectric thin film ,  gate(semiconductor) ,  *organic semiconductor ,  *current-voltage characteristic

JST classification (1)： Transistors  (NC03070N)

Substance index (2)： NPB ,  Tris[4-(2-naphthylphenylamino)phenyl]amine

Terms in the title (4)： 薄膜トランジスター ,  アモルファス ,  有機電子材料 ,  キャリア移動度