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J-GLOBAL ID：200902259191792730   Reference number：07A1200667

Solid State Physics Imaged by Scanning Probe Microscopy: Transport Phenomena: What can we do with a Four-tip Scanning Tunneling Microscope?

〈走査プローブ顕微鏡で見る固体物理〉輸送現象 4探針STMで何ができるのか

Author (3)： HASEGAWA SHUJI (東大 大学院理学系研究科) ,  YOSHIMOTO SHIN'YA (東大 大学院理学系研究科) ,  HOBARA REI (東大 大学院理学系研究科)
Material： 固体物理  (Solid State Physics)
Volume： 42  Issue： 11  Page： 757-764  Publication year： Nov. 15, 2007 
JST Material Number： F0158B  ISSN： 0454-4544  CODEN： KOTBA2  Document type： Article
Article type： 解説  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *scanning tunneling microscope ,...
Semi thesaurus term： ナノ電界効果

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JST classification (1)： Measuring methods and instruments of R,L,C,Q, and dielectric constant  (AD07030N)

Terms in the title (5)： 走査プローブ顕微鏡 ,  固体物理 ,  輸送現象 ,  探針 ,  STM