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J-GLOBAL ID：200902259512045885   Reference number：09A1038655

Alpha Particle and Neutron-induced Soft Error Rates and Scaling Trends in SRAM

SRAMのアルファ粒子および中性子起因のソフトエラー率とスケーリングトレンド

Author (4)： KOBAYASHI Hajime (Sony Corp., Kanagawa, JPN) ,  KAWAMOTO Nobutaka (Sony Corp., Kanagawa, JPN) ,  KASE Jun (Sony Corp., Kanagawa, JPN) ,  SHIRAISH Ken (Sony Corp., Kanagawa, JPN)
Material： Annual Proceedings. IEEE International Reliability Physics Symposium  (IRPS)
Volume： 47th Vol.1  Page： 206-211  Publication year： 2009 
JST Material Number： A0631A  ISSN： 1541-7026  Document type： Proceedings
Article type： 原著論文  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *SRAM ,  alpha beam ,  neutron beam ,  *error rate ,  scaling
Semi thesaurus term： *Soft Error Rate

JST classification (1)： Memory units  (JC04060F)

Terms in the title (5)： SRAM ,  アルファ粒子 ,  中性子 ,  起因 ,  ソフトエラー率