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J-GLOBAL ID：200902267622357745   Reference number：09A0214472

Local Measurement of Microwave Response with Local Tunneling Spectra Using Near Field Microwave Microscopy

近接場マイクロ波顕微鏡を用いた局所トンネリングスペクトルによるマイクロ波応答の局所測定

Author (7)： MACHIDA Tadashi (National Inst. Materials Sci., Ibaraki, JPN) ,  MACHIDA Tadashi (Tokyo Univ. Sci., Tokyo, JPN) ,  GAIFULLIN Marat B. (Loughborough Univ., Leicestshire, GBR) ,  OOI Shuuichi (National Inst. Materials Sci., Ibaraki, JPN) ,  KATO Takuya (Tokyo Univ. Sci., Tokyo, JPN) ,  SAKATA Hideaki (Tokyo Univ. Sci., Tokyo, JPN) ,  HIRATA Kazuto (National Inst. Materials Sci., Ibaraki, JPN)
Material： Applied Physics Express  (APEX)
Volume： 2  Issue： 2  Page： 025006.1-025006.3  Publication year： Feb. 25, 2009 
JST Material Number： F0599C  ISSN： 1882-0778  CODEN： APEPC4  Document type： Article
Article type： 短報  Country of issue： United Kingdom (GBR)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： microscope ,  *microwave ,  near field(optics) ,  *highly oriented pyrolytic graphite ,  state density ,  surface resistance ,  tunnel effect ,  spectrum ,  *microscopy
Semi thesaurus term： マイクロ波顕微鏡 ,  局所状態密度

JST classification (1)： Microscopy determination of structures  (BK01040E)

Reference (11)：

• HESS, H. F. Phys. Rev. Lett. 1989, 62, 214
• MATSUBA, K. J. Phys. Soc. Jpn. 2007, 76, 063704
• MACHIDA, T. J. Phys. Soc. Jpn. 2006, 75, 083708
• NIIMI, Y. Phys. Rev. B. 2006, 73, 085421
• HASSANIEN, A. Appl. Phys. Lett. 1998, 73, 3839

Terms in the title (6)： 近接場 ,  マイクロ波 ,  顕微鏡 ,  トンネリング ,  スペクトル ,  応答