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J-GLOBAL ID：200902268830936445   Reference number：06A0644302

Fluorescence X-ray absorption spectroscopy using a Ge pixel array detector: application to high-temperature superconducting thin-film single crystals

Ge画素配列検出器を用いた蛍光X線吸収分光法: 高温超伝導薄膜単結晶への応用

Author (11)： OYANAGI H. (National Inst. Advanced Industrial Sci. and Technol., Tsukuba, JPN) ,  TSUKADA A. (NTT Basic Res. Lab., Kanagawa, JPN) ,  NAITO M. (NTT Basic Res. Lab., Kanagawa, JPN) ,  SAINI N. L. (Universita di Roma ‘La Sapienza’, Roma, ITA) ,  LAMPERT M.-O. (Canberra-Eurisys SA, Tanneries, FRA) ,  GUTKNECHT D. (Canberra-Eurisys SA, Tanneries, FRA) ,  DRESSLER P. (Canberra-Eurisys SA, Tanneries, FRA) ,  OGAWA S. (Ogawa Consulting Engineer’s Office, Shizuoka, JPN) ,  KASAI K. (NE Software, Ibaraki, JPN) ,  MOHAMED S. (National Inst. Advanced Industrial Sci. and Technol., Tsukuba, JPN) ,  FUKANO A. (National Inst. Advanced Industrial Sci. and Technol., Tsukuba, JPN)
Material： Journal of Synchrotron Radiation  (J Synchrotron Radiat)
Volume： 13  Issue： 4  Page： 314-320  Publication year： Jul. 2006 
JST Material Number： W0763A  ISSN： 0909-0495  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *superconducting thin film ,...

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JST classification (1)： Other methods of structure determination  (BK01070L)

Terms in the title (8)： Ge ,  画素配列 ,  検出器 ,  蛍光 ,  X線吸収分光法 ,  超伝導薄膜 ,  単結晶 ,  応用