Art

J-GLOBAL ID：200902269137445094   Reference number：05A0085641

Experimental and theoretical investigations of delamination at free edge of interface between piezoelectric thin films on a substrate

基層上の圧電薄膜の間の界面の自由端における剥離の実験的および理論的研究

Author (6)： SHANG F (Kyoto Univ., Kyoto, JPN) ,  KITAMURA T (Kyoto Univ., Kyoto, JPN) ,  HIRAKATA H (Kyoto Univ., Kyoto, JPN) ,  KANNO I (Kyoto Univ., Kyoto, JPN) ,  KOTERA H (Kyoto Univ., Kyoto, JPN) ,  TERADA K (Kyoto Univ., Kyoto, JPN)
Material： International Journal of Solids and Structures  (Int J Solids Struct)
Volume： 42  Issue： 5/6  Page： 1729-1741  Publication year： Dec. 16, 2004 
JST Material Number： B0700A  ISSN： 0020-7683  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： United Kingdom (GBR)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *piezoelectric material ,...
Semi thesaurus term： PZT

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JST classification (1)： Manufacturing technology of solid-state devices  (NC03030V)

Terms in the title (7)： 基層 ,  圧電薄膜 ,  界面 ,  自由端 ,  実験 ,  理論 ,  研究