Art

J-GLOBAL ID：200902270658735658   Reference number：05A0351248

A New Method for Accurately Measuring Temperature Dependence of Refractive Index

屈折率の温度依存性を正確に測定する新しい方法

Author (4)： TOMIKI Masahiro (Shizuoka Univ., Shizuoka, JPN) ,  KURIHARA Naohiro (Shizuoka Univ., Shizuoka, JPN) ,  SUGIHARA Okihiro (Tohoku Univ., Miyagi, JPN) ,  OKAMOTO Naomichi (Shizuoka Univ., Shizuoka, JPN)
Material： Optical Review  (Opt Rev)
Volume： 12  Issue： 2  Page： 97-100  Publication year： Apr. 01, 2005 
JST Material Number： L2272A  ISSN： 1340-6000  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Japan (JPN)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *polymer thin film ,...
Semi thesaurus term： mライン法

   To see more with JDream III (charged).   {{ this.onShowAbsJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=05A0351248&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=L2272A") }}

JST classification (2)： Refractometry and reflectometry and their equipments  (BD07060V) ,  Thin films of organic compounds  (BK14070L)

Reference (6)：

• KANEKO, A. Proc. Int. Microoptic Conference, 1995. 1995, 234
• WAXLER, R. M. Appl. Opt. 1979, 18, 101
• CARIOU, J. M. Appl. Opt. 1986, 25, 334
• MOSHREFZADEH, R. S. J. Lightwave Technol. 1992, 10, 420
• TIEN, P. K. J. Opt. Soc. Am. 1970, 60, 1325

Terms in the title (2)： 屈折率 ,  温度依存性