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J-GLOBAL ID：200902276016301245   Reference number：04A0628671

Nondestructive determination of layers producing Franz-Keldysh oscillations appearing in photoreflectance spectra of heterojunction bipolar transistor structures based on their line-shape analysis

ヘテロ接合バイポーラトランジスタ構造のフォトリフレクタンス・スペクトルに現れるFranz-Keldysh振動を発生させる層の線形状解析による非破壊決定

Author (3)： TAKEUCHI H (Mitsubishi Electric Corp., Hyogo, JPN) ,  YAMAMOTO Y (Mitsubishi Electric Corp., Hyogo, JPN) ,  NAKAYAMA M (Osaka City Univ., Osaka, JPN)
Material： Journal of Applied Physics  (Journal of General Physics and its Application to Other Sciences and to Industry)
Volume： 96  Issue： 4  Page： 1967-1974  Publication year： Aug. 15, 2004 
JST Material Number： C0266A  ISSN： 0021-8979  CODEN： JAPIAU  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： compound semiconductor ,...

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JST classification (2)： Other optical effects  (BM08040H) ,  Transistors  (NC03070N)

Terms in the title (5)： ヘテロ接合バイポーラトランジスタ ,  フォトリフレクタンス ,  スペクトル ,  層 ,  形状解析