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J-GLOBAL ID：200902279949370026   Reference number：08A0495245

A New Method for RTS Noise of Semiconductor Devices Identification

半導体デバイス識別のRTS雑音のための新しい方法

Author (3)： KONCZAKOWSKA Alicja (Gdansk Univ. Technol., Gdansk, POL) ,  CICHOSZ Jacek (Gdansk Univ. Technol., Gdansk, POL) ,  SZEWCZYK Arkadiusz (Gdansk Univ. Technol., Gdansk, POL)
Material： IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement  (IEEE Trans Instrum Meas)
Volume： 57  Issue： 6  Page： 1199-1206  Publication year： Jun. 2008 
JST Material Number： C0232A  ISSN： 0018-9456  CODEN： IEIMAO  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *aliasing ,  *analog to digital converter ,  telegraph equation ,  *semiconductor device ,  noise measurement (signal) ,  *impulse noise ,  scattering
Semi thesaurus term： *ランダム電信信号雑音 ,  雑音散乱パターン法

JST classification (2)： Measurement,testing and reliability of solid-state devices  (NC03040G) ,  Noise in general  (ND04010J)

Terms in the title (3)： 半導体デバイス ,  識別 ,  雑音